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產(chǎn)品展示/ Product display

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低壓浪涌測試系統(tǒng)

ES62X-LVS 型低壓浪涌測試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5,GR-1089-CORE和C62.45-2002標(biāo)準(zhǔn)的雷電浪涌特性波形,用于晶圓級(jí)和封裝級(jí)器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能,便于確定被測器件的ESD損傷閾值。

  • 產(chǎn)品型號(hào):ES62X-LVS
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-08-13
  • 訪  問  量:680
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詳細(xì)介紹

1.描述

低壓浪涌測試系統(tǒng)脈沖發(fā)生器的設(shè)計(jì)和脈沖輸出方法保證了被測器件端的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時(shí)的的瞬態(tài)電流和電壓波形,用于分析包括ESD保護(hù)器件開啟電壓等級(jí)在內(nèi)的被測器件ESD特性。通過對(duì)比脈沖注入時(shí)的電壓波形變化,還能夠判定故障等級(jí)。

2.特點(diǎn)

  • 1V至500V電壓范圍內(nèi)波形干凈,線性度高

  • *隔離的放電電路

  • 軟件控制,自動(dòng)化測量

  • 損傷閾值自動(dòng)監(jiān)測(DC漏電測量及靜態(tài)IV掃描)

3.低壓浪涌測試系統(tǒng)應(yīng)用

  • 基于IEC61000-4-5 8 /20μs標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行電源,驅(qū)動(dòng)PCB,通信系統(tǒng),LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測試。

  • 進(jìn)行晶圓,封裝和PCB級(jí)的浪涌脈沖敏感度測試。

  • 10 /1000μs波形的晶圓,封裝,PCB和系統(tǒng)級(jí)浪涌敏感度和抗擾度測試。

4.規(guī)格

參數(shù)LVS-500-8/20 選項(xiàng)LVS-500-10/1000 選項(xiàng)單位
輸出電壓(開路負(fù)載)1 – 5001 – 500V
輸出電流(短路負(fù)載)0.5 – 2500.12 – 55A
輸出精度± 5 %± 5 %%
輸出電阻2 ± 10%9 ± 10%?
短路電流波前時(shí)間8 ± 20 %10 – 40 %µs
短路電流半峰值時(shí)間20 ± 20 %1000 +20 %µs
開路電壓波前時(shí)間1.2 ± 30 %10 – 40 %µs
開路電壓半峰值時(shí)間50 ± 20 %1000 +50 %µs
尺寸347 X 300 X 145mm
重量12kg
電壓探頭無源電壓探頭, 101:1
電流探頭無源電流探頭,  0.1 V/A

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